Röntgenes finomságvizsgáló gép – Compact Eco XRF

Cikkszám

AC-02

Terméktípus

XRF Finomságvizsgáló gépek

Asztali Röntgenes Finomságvizsgáló gép

Márka

Aczet

Felhasználási terület

Gép és Fémipar

Rendelésre

Kérjen ajánlatot!

Általános bemutatás / funkciók

A Compact Eco egy, asztali Röntgenes Finomságvizsgáló gép (röntgen-fluoreszcencia XRF spektrométer), melyet főként ékszerek, nemesfém-minták, bevonatok (bevonatrétegek), vékonyréteg méréséhez terveztek.
Fő jellemzői:

  • Nem roncsoló vizsgálati technika
  • Alkalmas arany, ezüst, illetve más fémötvözetek összetételének meghatározására, valamint fémbevonatok vastagságának mérésére.
  • “Top to Bottom” mérési irány: azaz a sugárforrás felülről irányul a mintára. Ez előnyös lehet térben nehezen hozzáférhető felületek vizsgálatánál (például belső átmérők).
  • Különböző detektorváltozatokkal érhető el (gas filled proportional counter, Si‑PIN detektor, vagy SDD — Silicon Drift Detector), attól függően, hogy milyen elemekre és milyen pontossággal kívánunk mérni.

Műszaki adatok Röntgenes Finomságvizsgáló gép

Paraméter

Érték / jellemző

Mérési irány

Top to Bottom (felülről lefelé)

Alkalmazási terület

Nemesfémek elemzése, ötvözetek vizsgálata, bevonatvastagság-mérés

Röntgencső

Minifókusz, wolfram cél, 0,2–0,8 mm pontméret

Nagyfeszültség / Áram

50 kV / 1,2 mA

Detektor típusok

Gáztöltésű számláló, Si-PIN, SDD

Mérési idő

60 – 180 másodperc

Kolimátor

0,3 mm vagy 0,5 mm

Mintatartó (asztal)

Manuális Z-irányú mozgatható asztal

Mérőtér mérete

375 × 350 × 255 mm (H × Sz × M)

Külső méret

630 × 430 × 420 mm (H × Sz × M)

Tömeg :

Kb. 45 kg

Tápellátás:

230 V AC, 50/60 Hz, 100–120 W

Szoftver és mérési funkciók

A készülékhez tartozó szoftver (Aczet XMaster) az alábbi funkciókat kínálja:

  • Az összes paraméter (nagyfeszültség, áram, kolimátor, szűrők) beállítása és vezérlése.
  • Két kalibrációs mód: empirikus (standard mintákkal) és fundamentális (standard minta nélkül) mérések.
  • Egyszerre akár 8 elem mennyiségi meghatározása (kvantitatív) és akár 20 elem kvalitatív azonosítása.
  • Spektrum-analízis, statisztikai kiértékelés (átlagérték, szórás, minimum/maximum értékek, trendvonal).
  • Eredmények „nem szerkeszthető” formátumban: a mérési adatok rögzítettek, nem módosíthatók utólag.

Előnyök

  • Gyors és nem roncsoló mérési módszer, amely lehetővé teszi az ékszer, bevonat vagy ötvözet vizsgálatát anélkül, hogy a mintát károsítanánk.
  • Különféle detektorváltozatok révén a felhasználó igényeihez igazítható (például nagyabb energiafelbontás, sok elem vizsgálata).
  • A Top-to-Bottom elrendezés lehetővé teszi a sugárexpozíció végétől független hozzáférést bonyolult mintákhoz is.
  • Viszonylag kompakt méretű  és viszonylag kis helyigény a laborban.

https://www.youtube.com/watch?v=m_EoqhnruJg

Kérjen árajánlatot!

Ajánlatkérés