Általános ismertető

Az Stark sorozat egy asztali XRF spektrométer család, elsősorban nemesfémek (arany, ezüst, platina) ötvözeteinek elemzésére és fémbevonatok vastagságmérésére.

Főbb jellemzők:

• Non‑destruktív mérés: a minta nem sérül a vizsgálat során.
• Alkalmazható minták: szilárd tárgyak, porok, bevonatos felületek, folyadékok (speciális kiegészítéssel) is vizsgálhatók.
• Mérési geometria (“Bottom to Top”): a röntgensugár alulról irányul felfelé a mintára. Ez segíti a minták pozicionálását, különösen ékszereknél vagy bonyolult formáknál.
• Autofókusz: beépített automatikus fókuszfunkció segíti a minták gyors és precíz elhelyezését.
• Szoftver (X‑MasteR): vezérli a műszert, beállítja a paramétereket (nagyfeszültség, áram, kolimátor, szűrők), és kiértékeli az eredményeket.

Kiemelt jellemzők, előnyök és alkalmazási megjegyzések

• A Bottom-to-Top geometria előnye, hogy a röntgensugár közvetlenül az alulról érkező irányból halad felfelé, így a minták egyszerűbb elhelyezése lehetséges, különösen ékszerek, gyűrűk esetén.
• Az autofókusz funkció gyors mintapozicionálást tesz lehetővé, minimalizálva a kezelési időt.
• A szoftver (X‑MasteR) támogatja mind az empirikus, mind az alapvető (fundamentális) kalibrációs módokat.
• A műszer alkalmas bevonatok vastagságának mérésére (pl. nikkelezés, ezüstözés stb.).
• A SaRk változatok közötti különbségek főként a detektor típusában és érzékenységében rejlenek (pl. gáztöltésű detektor olcsóbb, de alacsonyabb energiafelbontással; SDD érzékenyebb és pontosabb).

Műszaki paraméterek